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日本nanogray B射線測厚儀SB-1100
更新日期：2024-05-15
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
簡要描述：
日本nanogray B射線測厚儀SB-1100這是使用β射線（β射線）的測厚儀（薄膜測厚儀）。以非接觸方式（β射線）測量片材和板狀物體的厚度和密度（基重）。
日本nanogray B射線測厚儀SB-1100
這是使用β射線（β射線）的測厚儀（薄膜測厚儀）。以非接觸方式（β射線）測量片材和板狀物體的厚度和密度（基重）。不是直接測量厚度，而是通過與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度（基重）。
通常，為了測量片材寬度方向的厚度分布，檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶進行測量。激光位移計一般用作非接觸方式測量厚度的手段，但如果激光位移計安裝在掃描儀上，在運輸過程中只能以遠低于激光位移計的精度進行運輸, 導致結果. 高精度測量是困難的。
另一方面，在β射線測厚儀等通過透射衰減估算厚度的方法中，測量的是空氣層-樣品-空氣層與滲透之間的衰減，但樣品的衰減遠大于，傳輸?shù)挠绊懼槐憩F(xiàn)為空氣層厚度的變化，影響很小。因此，可以高精度地進行測量。
β射線測厚儀的一般特點
可以在不依賴元素的情況下測量基重。
與傳統(tǒng)的 β 射線測厚儀相比，我們的 β 射線測厚儀的特點
無需設置資質(zhì)或控制區(qū)域（認證設備帶顯示）
探測器和 β 射線源體積小、重量輕，即使在狹窄的線路中也可以安裝。
用途
塑料薄膜（多層擠塑薄膜等）
電池電極（鋰離子電池（負極/正極）、鎳氫電池等）
玻璃纖維布
陶瓷片
銅箔、鋁箔、不銹鋼箔
日本nanogray B射線測厚儀SB-1100
β射線測厚儀SB-1100技術參數(shù) | |
| 物品 | 規(guī)格 |
|---|---|
| 姓名 | Beta射線測厚儀SB-1100 |
| 測量方法 | β射線透射法 |
| 認證號碼 | Set 114（帶顯示器的認證設備） |
| 檢測方法 | 閃爍探測器法 |
| 測量間距 | 標準2mm（也可提供更細間距） |
| 掃描寬度 | 標準150-3000mm（也可提供其他寬度） |
| 掃描速度 | 15-200 毫米/秒（標準） |
| 框架結構 | O型及其他各種車架 |
| 測量范圍 | 0-200g/m 2 |
| 光斑尺寸 | 約φ8.0mm（標準）（工作中） |
| 貝塔射線源 | 80 x 110 毫米 x 235 毫米（標準） |
| 檢測單元 | 80 x 110 毫米 x 235 毫米（標準） |
| 電源 | 100V單相1kVA |
